Modeling and control of atomic force microscope for imaging using neural network
- سال انتشار: 1388
- محل انتشار: هفدهمین کنفرانس سالانه مهندسی مکانیک
- کد COI اختصاصی: ISME17_693
- زبان مقاله: انگلیسی
- تعداد مشاهده: 1445
نویسندگان
MSc stuent mechanical eng
MSC student of mechanical eng
associated professor
چکیده
Atomic force microscope (AFM) can provide topograhic images of surfaces. Control the vibration behavior of the AFM and make the probe tip track a certain trajectory is important to appropriately scanning.کلیدواژه ها
atomic force microscope(AFM), Non contact mode imaging, neural network (NN)مقالات مرتبط جدید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.