CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

تحلیل تئوری و عددی قابلیت سنسورهای مختلف بر شناسائی عیوب مختلف در روش نشت شار مغناطیسی

عنوان مقاله: تحلیل تئوری و عددی قابلیت سنسورهای مختلف بر شناسائی عیوب مختلف در روش نشت شار مغناطیسی
شناسه ملی مقاله: MECCONF02_021
منتشر شده در دومین همایش بین المللی مهندسی مکانیک، صنایع و هوافضا در سال 1397
مشخصات نویسندگان مقاله:

حمید رضا فرجی - کارشناسی ارشد، دانشگاه آزاد اسلامی واحد تهران شرق
امیر رفاهی اسکویی - استادیار دانشکده مهندسی مکانیک، دانشگاه شهید رجایی تهران
حسین حیدری - استادیار دانشکده مهندسی مکانیک، دانشگاه تفرش

خلاصه مقاله:
نشت شار مغناطیسی یکی از روش های تست غیر مخرب است که برای قطعات فرو مغناطیس مورد استفاده قرار میگیرد. اساس کارکرد نشتی شار مغناطیسی بر پایه اعمال یک میدان مغناطیسی قوی توسط یک یوک مغناطیسی بوده بنحوی که نمونه تحت آزمایش به اشباع مغناطیسی برده شود. میدان مغناطیسی اعمالی در صورت وجود نقص و کاهش سطح مقطع، قابلیت عبور از نمونه را نداشته و درنتیجه مقداری از شار مغناطیسی عبوری از قطعه تحت آزمایش به فضای اطراف نشت می کند. نشت مغناطیسی ایجاد شده در روش نشت شار مغناطیسی توسط سنسورها دریافت و گزارش می گردد. هدف از این مقاله معرفی و بکارگیری سنسورهای مختلف مغناطیسی در روش نشت شار مغناطیسی می باشد. برای حل معادلات الکترو مغناطیسی از نرم افزار المان محدود ماکسول استفاده شد. در این تحقیق یک مدل سه بعدی برای یک حالت ویژه ارائه گردید. سپس با ساخت ست آپ نشت شار مغناطیسی به انجام آزمایش های تجربی در ورق دارای عیب پرداخته شده است. در نهایت از مجموعه آزمایش از سنسور هال بعنوان یکی از مهمترین سنسورهای بکار گرفته شده در روش نشت شار مغناطیسی استفاده گردید و توانایی آن برای شناسائی عیوب ارزیابی شد.

کلمات کلیدی:
نشت شار مغناطیسی، سنسور هال، شبیه سازی الکترومغناطیس

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/903204/