تعیین اندازه عیوب داخلی در قطعات با استفاده از روش تداخل سنجی لیزری برشی

  • سال انتشار: 1397
  • محل انتشار: پنجمین کنفرانس بین‌المللی آزمون‌های غیرمخرب ایران
  • کد COI اختصاصی: ICTINDT05_031
  • زبان مقاله: فارسی
  • تعداد مشاهده: 501
دانلود فایل این مقاله

نویسندگان

سینا صباغی فرشی

دانشجوی دکتری، دانشگاه تربیت مدرس

داود اکبری

استادیار، دانشگاه تربیت مدرس

نوید صابری

دانشجوی کارشناسی ارشد، دانشگاه تربیت مدرس

چکیده

برش نگاری دیجیتالی روشی مبتنی بر تداخل سنجی لیزری است که در تشخیص و اندازه گیری عیوب به صورت غیر مخرب کاربرد دارد. در این پژوهش روش جدیدی برای اندازه گیری عیوب صفحه ای در قطعات به روش برش نگاری ارائه شد. به منظور صحت سنجی روش ارائه شده و مطالعه اثر عمق عیب و اندازه برش بر دقت اندازه گیری آن در مجموع 16 آزمون برشنگاری با تغییر اندازه عیب در چهار سطح و عمق عیب و اندازه برش در دو سطح صورت گرفت . اندازه عیوب در شرایط مختلف اندازهگیری شده و خطای پیشبینی اندازه در هر مورد به دست آمد. روش ارائه شده با دقت خوبی قادر به پیشبینی اندازه عیب بود و کمترین درصد خطای پیشبینی در آزمون برشنگاری عیب 15 میلیمتر در عمق 0/5 میلیمتر با اندازه برش 15 میلیمتر به دست آمد . نتایج به دست آمده نشان داد که با نزدیک شدن اندازه برش به اندازه عیب درصد خطا کاهش مییابد و بیشترین دقت پیشبینی اندازه عیب زمانی حاصل میشود که اندازه برش برابر با اندازه عیب باشد. همچنین تغییر عمق عیب باعث تغییر خطای پیشبینی اندازه عیب شده و در اغلب موارد پیشبینی اندازه عیوب با عمق 1 میلیمتر به دلیل وضوح بهتر هاله های تشکیل شده، با دقت بیشتری همراه بود

کلیدواژه ها

برش نگاری دیجیتالی، عیوب صفحه ای، اندازه برش، اندازه عیب

مقالات مرتبط جدید

اطلاعات بیشتر در مورد COI

COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.