CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

بررسی اثر ضخامت لایه های نازک ZnO تهیه شده به روش اسپری بر روند رشد و خواص ساختاری و اپتیکی آن

عنوان مقاله: بررسی اثر ضخامت لایه های نازک ZnO تهیه شده به روش اسپری بر روند رشد و خواص ساختاری و اپتیکی آن
شناسه (COI) مقاله: JR_JAPAZ-3-1_002
منتشر شده در شماره 1 دوره 3 فصل در سال 1392
مشخصات نویسندگان مقاله:

امامه طاهری - دانشگاه الزهرا
عبدالله مرتضی علی - دانشگاه الزهرا

خلاصه مقاله:
    در این پژوهش، لایه های نازک اکسید روی با ضخامت های متفاوت بین 46 تا 317 نانومتر بر روی زیرلایه شیشه به روش اسپری لایه نشانی شده اند. موفولوژی و میزان زبری سطح لایه ها با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی ( SEM ) و میکروسکوپ نیروی اتمی ( AFM ) اندازه گیری شده اند. تصاویر AFM و SEM لایه ها نشان می دهند که در روند رشد و زبری لایه ها با افزایش ضخامت، دو حالت متفاوت رشد مشاهده می شود. نخست با افزایش ضخامت، زبری کاهش یافته و یک حالت رشد افقی که در آن زیرلایه در روند رشد نقش بیش تری را از خود بروز داده، و با افزایش بیشتر ضخامت، تغییری به حالت رشد عمودی می شود که زبری مجددا افزایش می یابد و نشانگر نقش خود لایه در روند رشد می باشد. خواص اپتیکی لایه ها از جمله ضریب عبور T ، گاف انرژی Eg و ضریب شکست که به صورت تابعی از ضخامت ، مورد آنالیز قرار گرفتند. آنالیز داده های اپتیکی نشان می دهند که با افزایش ضخامت لایه ها گاف انرژی و طیف عبوری کاهش می یابد و میانگین طیف عبوری در محدوده ی طول موج های مرئی بالاتر از %80 می باشد. نتایج ما نشان می دهد که با کنترل زمان لایه نشانی و بقیه پارامترها می توانیم نحوه رشد لایه وزبری سطح را برای مقاصد تجربی کنترل کنیم.  

کلمات کلیدی:
لایه های نازک ZnO, زبری, ضخامت, خواص اپتیکی, روندرشد و ساختار

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/862641/