CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

بررسی ساختاری (XRD,SEM,EDX….) لایه های نازک نانوکریستال سولفید روی (ZnS)

عنوان مقاله: بررسی ساختاری (XRD,SEM,EDX….) لایه های نازک نانوکریستال سولفید روی (ZnS)
شناسه ملی مقاله: IPC88_417
منتشر شده در کنفرانس فیزیک ایران 1388 در سال 1388
مشخصات نویسندگان مقاله:

غلامرضا نبیونی - گروه فیزیک، دانشگاه اراک
رضا صحرائی - گروه شیمی فیزیک، دانشگاه ایلام
مریم طغیانی - گروه فیزیک، دانشگاه اراک
کامبیز هدایتی - گروه فیزیک، دانشگاه اراک

خلاصه مقاله:
در این پروژه چگونگی ساخت لایه های نانوکریستال سولفیدروی با شیوه جدید لایه نشانی حمام شیمیایی (CBD) بر روی زیر لایه های شیشه ای و سیلیکونی به منظور مطالعه و بررسی خواص میکروساختار آن درسلول های فتوولتاییک بررسی می گردد. آنالیز XRD از نمونه ها نشان می دهد که نانوکریستال های قرار گرفته بر روی لایه ساختار مکعبی دارند. همچنین با استفاده از معادله ی شرر اندازه ی نانوکریستال ها محاسبه شد. تصاویر SEM گرفته شده از نمونه ها حاکی از این است که دانه ها کاملاً به هم فشرده شده اند، و ترکیب درصد شیمیایی کیفی ( FTIR) از نمونه ها نشان دهنده ی نوع ناخالصی در آنها است. همچنین میزا ن زبری و متوسط ارتفاع لایه نازک در این نمونه ها با استفاده از تصاویر AFM اندازه گیری شد. زبری و متوسط ارتفاع در ضخامت های مختلف لایه نازک سولفیدروی تقریباً ثابت می مانند.

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/85832/