رشد لایه های نازک سولفید روی و بررسی خواص اپتیکی آن به روش سان پل
- سال انتشار: 1388
- محل انتشار: کنفرانس فیزیک ایران 1388
- کد COI اختصاصی: IPC88_323
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 1082
نویسندگان
چکیده
لایه های نازک سولفید روی با ضخامت های مختلف ( 500 و 800 و 1100 نانو متر) روی زیر لایه شیشه معمولی در دمای اتاق به روش تخیر حرارتی در خلاء تهیه گردید. آنالیزاپتیکی لایه های نازک به روش سان پل حاکی از آن است که با کاهش ضخامت، درصد عبور در طول موج های بین 800-350 نانومتر افزایش می یابد. آنالیزساختاری نشان می دهد که لایه ها در ساختار هگزاگنال ساده چگالیده شده اند و با افزایش ضخامت، شدت قله ( 103 ) افزایش یافته و همچنین قله ( 110 ) در ضخامت های بالاتر ظاهر می شود که این نشان دهنده ی تاثیر ضخامت لایه روی خواص ساختاری است.کلیدواژه ها
مقالات مرتبط جدید
- Analytical determination of flexural rigidity of thin-walled pultruded composite I-beams
- Matrix-Dominated Damage Process in CFRP Composite Laminates underFlexural Loading Condition
- Indentation Size Scale Effect on Mechanical Properties of Cold SprayCoating
- Determination of Forming Limit Diagrams for Tailor Welded Blanks
- Control of dynamic building façade: design, analysis and experiments
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.