تأثیرتوزیع میدان الکتریکی بر آستانه تخریب لیزری چند لایه ها
- سال انتشار: 1388
- محل انتشار: کنفرانس فیزیک ایران 1388
- کد COI اختصاصی: IPC88_180
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 1045
نویسندگان
پژوهشکده لیزر و اپتیک ، پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای
پژوهشکده لیزر و اپتیک ، پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای
گروه فیزیک، دانشکده علوم پایه، دانشگاه گیلان
پژوهشکده لیزر و اپتیک ، پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای
چکیده
جذب پرتو لیزر در لایه نشانی های چند لایه، با شدت میدان الکتریکی متناسب است. کاهش شدت میدان الکتریکی، منجر به افزایش آستانه تخریب لیزری می گردد. می توان شدت میدان الکتریکی را با تغییر طراحی لایه ها، کاهش داد. در این مقاله به بررسی اثر کاهش شدت میدان الکتریکی در بالا بردن آستانه تخریب لیزری چند لایه ها می پردازیم.کلیدواژه ها
مقالات مرتبط جدید
- بررسی اثر شکل موج منبع موج کیلو هرتزی در تولید جت پلاسمای فشار اتمسفری
- افزایش شار مشخصه پرتو ایکس با استفاده از هدف های جامد با روش بر هم کنش لیزر- پلاسما
- بررسی مکانیزم تولید پرتو ایکس از طریق بر هم کنش لیزر شدت بالا با محیط پلاسما به روش جذب تشدیدی (با قطبش P )
- بررسی راه کارهای موجود جهت حذف ترکیبات سمی Nox از گارهای تولید شده توسط صنایع و خودروها
- کانونی سازی باریکه یونهای گزنون شتاب یافته توسط چهار قطبی مغناطیسی
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.