خواص نوری، ساختاری و مورفولوژی نانو ساختار لایه نازک ZnO در ساختار چند لایه ای ZnO/Al2O3/SiO2 لایه نشانی شده توسط روش کندوپاش RF
- سال انتشار: 1388
- محل انتشار: کنفرانس فیزیک ایران 1388
- کد COI اختصاصی: IPC88_115
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 1822
نویسندگان
آزمایشگاه نانو الکترونیک ولایه های نازک دانشکده مهندسی برق و کامپیو
آزمایشگاه نانو الکترونیک ولایه های نازک دانشکده مهندسی برق و کامپیو
چکیده
لایه های نازک اکسید روی (ZnO) بر روی زیر لایه های PET که از پیش با ساختار چند لایه ای Al2O3/SiO2 پوشانده شده ، توسط روش کندو پاش RF در حضور پلاسمای آرگون ، در توانهای RF مختلف ، لایه نشانی گردیده و ساختار کریستالی، مورفولوژی سطح، عبور نوری لایه ها در ناحیه مرئی به ترتیب توسط آنالیزهای: SEM , XRD و طیف سنجی UV/VIS/IR بررسی شده است. نتایج نشان می دهد که رشد لایه ها در جهت کریستالی ( 002 ) بوده و متوسط عبور نوری لایه ها بالای 85 % است . با افزایش توان عبور نوری لایه های اکسید روی در ناحیه مرئی و شدت کریستالی لایه ها افزایش می یابد. انرژی نوار ممنوعه نوری بین (ev)3/39-3/31 در توانهای مختلف RF تغییر می کند.کلیدواژه ها
مقالات مرتبط جدید
- Analytical determination of flexural rigidity of thin-walled pultruded composite I-beams
- Matrix-Dominated Damage Process in CFRP Composite Laminates underFlexural Loading Condition
- Indentation Size Scale Effect on Mechanical Properties of Cold SprayCoating
- Determination of Forming Limit Diagrams for Tailor Welded Blanks
- Control of dynamic building façade: design, analysis and experiments
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.