Tip Shape Effects on Surface Trench Characterization with Amplitude Modulation AFM

سال انتشار: 1388
محل انتشار: سومین کنفرانس نانوساختارها
کد COI اختصاصی: CNS03_310
زبان مقاله: انگلیسی
تعداد مشاهده: 1299

نویسندگان

Nano-Robotics Laboratory, Center of Excellence in Design, Robotics and Automation, School of Mechanical Engineering, Sharif University of Technology, Tehran

A Meghdari

Nano-Robotics Laboratory, Center of Excellence in Design, Robotics and Automation, School of Mechanical Engineering, Sharif University of Technology, Tehran

چکیده

In the present work, characterization of the surface trenches with amplitude modulation AFM (AM-AFM) is simulated and the effects of the tip shape on the resulting images are investigated. The simulated system includes a recently developed gold coated AFM probe which interacts with a sample including a surface trench or a single-atom vacancy. In order to examine the behavior of the above system including different transition metals, molecular dynamics (MD) simulation with Sutton-Chen (SC) interatomic potential is used. In this study, an online imaging simulation of the probe and the sample is performed, and the effects of the tip apex radius, the tip cone angle, the probe tilt angle, the tip apex atoms number, and the tip axis direction with respect to the FCC lattice structure on the resulting images are studied.

کلیدواژه ها

Trench characterization; Amplitude modulation AFM; Tip shape effects; Molecular Dynamics simulation;Sutton-Chen potential

مقالات مرتبط جدید

اطلاعات بیشتر در مورد COI

COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.