رشد و مشخصه یابی نانوساختارهای آهن و مس برروی نیمرسانایn-Si وp-Si
- سال انتشار: 1387
- محل انتشار: کنفرانس فیزیک ایران 1387
- کد COI اختصاصی: IPC87_354
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 1062
نویسندگان
گروه فیزیک دانشکده علوم دانشگاه اراک
گروه فیزیک دانشکده علوم دانشگاه اراک - جهاد دانشگاهی
گروه فیزیک دانشکده علوم دانشگاه اراک
چکیده
در این مقاله رشد و مشخصه یابی نانو ساختارهای آهن و مس بر روی زیر لایه ها ئی از جنس سیلیکون ( 100 ) و ( 111 ) از نوع n و p با ضخامتهای 150-50 نانومتر برای آهن و 200-5 نانومتر برای مس، مورد مطالعه قرار گرفته است. از روی تصاویر AFM زبری، راستای چینه بندی و سایر پارام ترهای ساختاری مربوط به لایه ها ی نازک آهن و مس محاسبه و چگونگی تغییر زبری در اثر تغییر ضخامت و شرایط رشد را مورد مطالعه قرار میدهیم. ریشه ی میانگین مربعی (RMS) یا زبری در ابعاد 5×5 میکرومتر محاسبه شد که با در نظر گرفتن زاویه بین راستای چینه بندی و محور y (45°) ، مقدار RMS بترتیب برای آهن و مس 1/5-0/5 نانومتر و 2-1 نانومتر محاسبه گردیده است. خواص الکتریکی این لایه ها نیز به کمک ابزار Four Point Probe (FP) مورد تجزیه و تحلیل قرار گرفت.کلیدواژه ها
مقالات مرتبط جدید
- Analytical determination of flexural rigidity of thin-walled pultruded composite I-beams
- Matrix-Dominated Damage Process in CFRP Composite Laminates underFlexural Loading Condition
- Indentation Size Scale Effect on Mechanical Properties of Cold SprayCoating
- Determination of Forming Limit Diagrams for Tailor Welded Blanks
- Control of dynamic building façade: design, analysis and experiments
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.