اثر پارامترهای ولتاژ پالس بر خواص مغناطیسی و میکروساختار نانو سیم های آهن
- سال انتشار: 1387
- محل انتشار: کنفرانس فیزیک ایران 1387
- کد COI اختصاصی: IPC87_273
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 1240
نویسندگان
دانشکده علوم، گروه فیزیک دانشگاه کاشان
دانشکده علوم، گروه فیزیک دانشگاه کاشان
چکیده
آرایه نانو سیم های آهن با جهت مرجح ( 110 ) طی فرایند الکتروانباشت ضمن اعمال ولتاژهای مختلف پالسی درون قالب اکسید آلومینیوم ساخته شد و منحنی پسماند متناظر با هر یک از نمونه ها با استفاده از سیستم مغناطوسنج گرادیان نیروی متناوب ترسیم گشت. ارزیابی این منحنی ها نشان داد که افزایش زمان خاموشی ضمن کاهش زمان های اکسایش و کاهش میتواند موجب افزایش وادارندگی و نسبت مربعی به ترتیب از 1421 و 0/78 به 1729 و 0/93 ( افزایش 20 درصدی) شود. با مطالعه و مقایسه مقادیر وادارندگی، مغناطش اشباع و شدت پیک موجود در طرح پراش اشعه ایکس نمونه ها دریافتیم که تفاوت در کیفیت انباشت ناشی از اختلاف پالس های اعمالی، دلیلی بر اختلاف در سهم بلوری آنها می باشد.کلیدواژه ها
مقالات مرتبط جدید
- Analytical determination of flexural rigidity of thin-walled pultruded composite I-beams
- Matrix-Dominated Damage Process in CFRP Composite Laminates underFlexural Loading Condition
- Indentation Size Scale Effect on Mechanical Properties of Cold SprayCoating
- Determination of Forming Limit Diagrams for Tailor Welded Blanks
- Control of dynamic building façade: design, analysis and experiments
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.