بررسی خواص فیزیکی اکسید روی شبه گرافینی در حضور اتم هیدروژن
- سال انتشار: 1397
- محل انتشار: اولین کنفرانس ملی میکرو نانو فناوری
- کد COI اختصاصی: MNTECH01_081
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 725
نویسندگان
دانشکده فیزیک پلاسما، واحد علوم و تحقیقات، دانشگاه آزاد اسلامی، تهران، ایران
دانشگاه آزاد اسلامی واحد علوم و تحقیقات، تهران، ایران
چکیده
در این مقاله با استفاده از نظریه تابع چگالی خواص الکترونیکی صفحه اکسید روی بدون ناخالصی و سپس خواص صفحه ی اکسید روی در حضور اتم هیدروژن را بررسی کردهایم که شامل ساختار نواری و چگالی حالات الکترونی میباشد. نشان داده ایم چگالی حالات صفحه اکسیدروی باحضور اتم هیدروژن در مقایسه با چگالی حالات صفحه اکسید روی بدون هیدروژن تفاوت دارد و مشاهده کردیم حضوراتم هیدروژن، باعث ایجاد خاصیت مغناطیسی در نمونه و به دنبال آن پهن شدگی توزیع الکترون در گستره انرژی میشود. همچنین با توجه به نمودار ساختار نواری و با کوچک شدن اندازه گاف انرژی اکسید روی با حضور ناخالصی نسبت به حالت بدون ناخالصی و قرارگرفتن تراز فرمی در نوار رسانش، به این نتیجه رسیدیم که صفحه اکسیدروی باحضور اتم هیدروژن خاصیت رسانندگی داردکلیدواژه ها
اکسید روی، ساختار نواری، چگالی حالات، نظریه تابع چگالیمقالات مرتبط جدید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.