جواد کاکاوند - دانشکده مهندسی برق، دانشگاه علم و صنعت ایران، تهران، ایران.
جمشید فریبرز - دانشکده مهندسی برق، دانشگاه علم و صنعت ایران، تهران، ایران

میکروسکوپ های نیروی اتمی AFM، تجهیزاتی توانمند جهت تصویربرداری و دستکاری در مقیاس نانو میباشند. این ابزارها از دو روش تصویربرداری تماسی و غیرتماسی سود میجویند.با وجود توان بالای تصویربرداریAFM، همچنان محدودیت ها و ضعف هایی سخت افزاری یانرم افزاری در تهیه تصاویر آن وجود دارد؛ از جمله نویز نواری شکل1، اثرات پلگی 2، محدودیت سرعت اسکن، مشکلات لبه-یابی و پردازش بافت و ... .زمینه این پژوهش، بهبود تصاویر AFM بدون توجه به مسایل سخت افزاری میکروسکوپ نیروی اتمی است.در این مقاله ابتدا با استفاده از الگوریتمی ویژه، نویز نواری شکلبا رعایت جوانب احتیاطی جهت صدمه ندیدن لبه ها کاهش یافته و سپس ویژگی های تصویر استخراج میشود.فرآیند استخراج ویژگی شامل دو مرحله لبه یابی و پردازش بافت میباشد. لبه یابی، توسطروش ترکیبی کرولت-کنی انجام شده و سپس بافت تصویر، پردازش میشود. دیگر بررسی صورت گرفته در این پژوهش، مقایسه روش های گوناگون لبه-یابی و نویز زدایی با متدهای مورد استفاده مقاله پیش رو میباشد که در ادامه به بررسی آنها میپردازیم . شایان ذکر است کلیه تصاویر استفاده شده در این مقاله، حاصل از عملیات اسکن نمونه ها توسط میکروسکوپ نیروی اتمی مستقر در آزمایشگاه مرجع مرکزی دانشگاه علم و صنعت ایران بدست آمدهاند.

پردازش بافت، تبدیل کرولت، تبدیل کنی، لبهیابی، نویززدایی