بهبود تصاویر میکروسکوپ نیروی اتمی : (AFM ) نویززدایی، لبه یابی و پردازش بافت

  • سال انتشار: 1396
  • محل انتشار: کنفرانس ملی نوآوریهای علوم مهندسی برق
  • کد COI اختصاصی: CEES01_052
  • زبان مقاله: فارسی
  • تعداد مشاهده: 648
دانلود فایل این مقاله

نویسندگان

جواد کاکاوند

دانشکده مهندسی برق، دانشگاه علم و صنعت ایران، تهران، ایران.

جمشید فریبرز

دانشکده مهندسی برق، دانشگاه علم و صنعت ایران، تهران، ایران

چکیده

میکروسکوپ های نیروی اتمی AFM، تجهیزاتی توانمند جهت تصویربرداری و دستکاری در مقیاس نانو میباشند. این ابزارها از دو روش تصویربرداری تماسی و غیرتماسی سود میجویند.با وجود توان بالای تصویربرداریAFM، همچنان محدودیت ها و ضعف هایی سخت افزاری یانرم افزاری در تهیه تصاویر آن وجود دارد؛ از جمله نویز نواری شکل1، اثرات پلگی 2، محدودیت سرعت اسکن، مشکلات لبه-یابی و پردازش بافت و ... .زمینه این پژوهش، بهبود تصاویر AFM بدون توجه به مسایل سخت افزاری میکروسکوپ نیروی اتمی است.در این مقاله ابتدا با استفاده از الگوریتمی ویژه، نویز نواری شکلبا رعایت جوانب احتیاطی جهت صدمه ندیدن لبه ها کاهش یافته و سپس ویژگی های تصویر استخراج میشود.فرآیند استخراج ویژگی شامل دو مرحله لبه یابی و پردازش بافت میباشد. لبه یابی، توسطروش ترکیبی کرولت-کنی انجام شده و سپس بافت تصویر، پردازش میشود. دیگر بررسی صورت گرفته در این پژوهش، مقایسه روش های گوناگون لبه-یابی و نویز زدایی با متدهای مورد استفاده مقاله پیش رو میباشد که در ادامه به بررسی آنها میپردازیم . شایان ذکر است کلیه تصاویر استفاده شده در این مقاله، حاصل از عملیات اسکن نمونه ها توسط میکروسکوپ نیروی اتمی مستقر در آزمایشگاه مرجع مرکزی دانشگاه علم و صنعت ایران بدست آمدهاند.

کلیدواژه ها

پردازش بافت، تبدیل کرولت، تبدیل کنی، لبهیابی، نویززدایی

مقالات مرتبط جدید

اطلاعات بیشتر در مورد COI

COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.