CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

محاسبه پارامترهای نانوساختار لایه نازک ایندیم اکسید آلاییده شده با قلع با استفاده از روش ریدفیلد و وارن-اورباخ

عنوان مقاله: محاسبه پارامترهای نانوساختار لایه نازک ایندیم اکسید آلاییده شده با قلع با استفاده از روش ریدفیلد و وارن-اورباخ
شناسه ملی مقاله: ICC07_042
منتشر شده در هفتمین کنگره سرامیک ایران در سال 1388
مشخصات نویسندگان مقاله:

نادره مومنی ترکمان - Materials and Energy Research Center (MERC)
یداله گنج خانلو - Dep. of Science, Karaj branch Islamic Azad University
محمود کاظم زاده - Dep. of Science, Karaj branch Islamic Azad University
تورج عبادزاده - Dep. of Science, Karaj branch Islamic Azad University

خلاصه مقاله:
طیف تفرق اشعه X اکسید ایندیم آلاییده شده با قلع (ITO) آماده شده توسط روش تبخیر باریکه الکترونی وعملیات حرارتی شده در دو دمای 450C 500C توسط دو روش Warren-Averbach و Rietveld آنالیز شد پارامترهای الکتریکی و نوری نیز توسط ترکیب مدل ترکیب مدل تعدیل شده Drude و مدل Froohi - bloomer و سپس تطابقت دادن طیف عبور اندازه گیری شده و محاسبه شده، محاسبه شد . نتایج نشان داد که نمونه آنیل شده در دمای بالاتر هدایت الکتریکی، حاملهای بار، پارامتر شبکه، میکروکرنش بالاتری دارد . در حالی که در نمونه آنیل شده در دمای پایین تر عیوب بیشتر در مرزدانه ها می باشند و همچنین مکانیزم هدایت الکتریکی درون دانه ای می باشد. شیفت Burstein–Moss نیز در نمونه آنیل شده در دمای بالاتر شدیدتر می باشد و همچنین بافت و آرایش ترجیهی نمونه آنیل شده در دمای بالاتر در جهت <111> نسبت به جهت <100> افزایش یافته است.

کلمات کلیدی:
اکسید ایندیم آلاییده شده با قلع، طیف عیور، روش ریدفیلد، روش وارن-اورباخ

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/69878/