بررسی اثرات سال خوردگی و نوسانات ساخت بر عملکردهای ترانزیستور فین فت
- سال انتشار: 1396
- محل انتشار: دومین کنفرانس بین المللی مهندسی برق
- کد COI اختصاصی: ICELE02_236
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 734
نویسندگان
گروه برق، دانشکده فنی و مهندسی، واحد یزد، دانشگاه آزاد اسلامی، یزد، ایران
استاد گروه برق، دانشکده فنی و مهندسی ، واحد یزد، دانشگاه آزاد اسلامی، یزد ، ایران
گروه برق، دانشکده فنی و مهندسی ، واحد یزد، دانشگاه آزاد اسلامی، یزد ، ایران
چکیده
در سال 1965 مور پیش بینی کرد بعد از گذشت هر هجدهماه تعداد ترانزیستورهای روی یک تراشه دو برابر میشود. این پیشبینی با کوچک کردن ابعاد ترانزیستور محقق شد.. با کوچک شدن ابعاد ترانزیستورها و حرکت به سمت تکنولوژیهای نانومتری بروز مشکلات جدیدی عملکرد سیستم را تحت تاثیر قرار می دهد. از جمله این مشکلات میتوان نوسانات فرآیند، خطاهای نرم و سالخوردگی را نام برد. از آنجا که نوسانات سالخوردگی از مهمترین عوامل موثر در پدیده سال خوردگی میتوان به کوچک شدن تکنولوژی ساخت و افزایش دما در سطح تراشه به دلیل افزایش تعداد ترانزیستورها اشاره کرد. مکانیزمهای غالب پدیده سالخوردگی شکست وابسته به زمان، ناپایداری حرارتی بایاس،اثر حامل داغ و مهاجرت الکتریکی هستند. تمامی مدلهای مکانیزم سالخوردگی وابسته به تکنولوژی است. پارامترهای تکنولوژی که تاکنون استخراج شده همه مربوط به تکنولوژی CMOS بوده و اکثرا برای طول گیت بزرگ تر از 32 نانومتر بوده است. در این مقاله پس از مطالعه مکانیزمهای مختلف سالخوردگی برای تکنولوژی 10،14نانومتر FinFET مدل مداری ناپایداری حرارتی بایاس و شکست وابسته به زمان استخراج شده و اثر این عوامل بر عملکرد ترانزیستور مورد بررسی قرار میگیردکلیدواژه ها
تکنولوژی نانومتری، ترانزیستور فین فت ، سالخوردگی، قابلیت اطمینانمقالات مرتبط جدید
- ارزیابی اقتصادی و زیست محیطی سناریوهای ترکیب انرژی تجدیدپذیر در برنامه ریزی تولید برق ایران تا افق ۱۴۱۰
- بررسی فناوریها و استراتژیها برای بهینه سازی مصرف انرژی و افزایش کارایی در شبکه های توزیع
- فناوری اطلاعات و ارتباطات سبز
- Hoo Controller Design for a Quadruple-Tank Multivariable System: Robust Performance via Weighted Sensitivity Shaping
- تاثیر حیاتی همبستگیهای آماری ضعیف بادبار بر قابلیت اطمینان سیستمهای قدرت: دیدگاهی فراتر از مدلهای سنتی
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.