شبیه سازی آثار غیرخطی نوری در موجبر سیلیکون به روش FDTD

  • سال انتشار: 1388
  • محل انتشار: دوازهمین کنفرانس دانشجویی مهندسی برق ایران
  • کد COI اختصاصی: ISCEE12_203
  • زبان مقاله: فارسی
  • تعداد مشاهده: 1699
دانلود فایل این مقاله

نویسندگان

عباس علیایی

دانشگاه سمنان دانشکده برق

فرزاد توکل همدانی

دانشگاه سمنان دانشکده برق

چکیده

با توجه به انرژی شکاف ترازی سیلیکون ، که در محدوده طول موج مخابرات نوری قرار دارد، فرآیند های نور ی غیرخطی به خصوص جذب دو فوتونی، جذب ناشی از حامل های آزا د و اثر تغییر ضریب شکست پلاسم ا ، نقش مهمی در انتشار پرتو و خصوصیات طیفی آن در موجبر سیلیکون دارند. این آثار با کمک الگوریتمی مرکب از روش ADE و روش اعمال جذب به جزء رسانش، در شبیه سازی FDTD وار د شدند . این الگوریتم برای شبیه سازی انتشار پرتو در موجبر سیلیکون HIC تک مود بکار برده شد. نتایج شبیه ساز ی در توافق با گزارش های تجربی است . بر پایه د ا نسته های ما، این دومین الگوریتم FDTD غیرخطی کامل ارائه شده تا به حال است . این الگوریتم در مقایسه با اولین الگوریتم ارائه شده، ضمن افزایش سرعت اجرا، قابلیت بیشتر ی در بررسی جداگانه هر یک از فرآیندهای غیرخطی نوری دارد طوری که م ی توان بدون تغیی ر شکل الگوریتم هر فرآیند دیگری را با مدل مناسب به آن افزو د . اجرای شبیه ساز ی برای ساختارهای پیچیده تر شامل حلقه های مشدد به سادگی امکان پذیر است.

کلیدواژه ها

اپتیک غیرخطی، موجبر سیلیکون ،TPA ،Finite-difference time-domain method

مقالات مرتبط جدید

اطلاعات بیشتر در مورد COI

COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.