رشد بلورهای مخلوط KBrxCl1-x به روش چکرالسکی و تأثیر درصدهای مختلف بر روی الگوی اشعه ایکس
- سال انتشار: 1387
- محل انتشار: نهمین کنفرانس ماده چگال
- کد COI اختصاصی: CMC09_151
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 1631
نویسندگان
دانشگاه امام حسین(ع)
دانشگاه امام حسین(ع)
پژوهشکده فیزیک، تهران
پژوهشکده فیزیک، تهران
چکیده
تک بلور KBrxCl1-x بدون ناخالصی به روش چکرالسکی در آزمایشگاه تحقیقاتی رشد بلور، رشد داده شد. آنالیز حاصل از پراش اشعه ایکس بر روی نمونه ها نشان می دهد که با ورود درصدهای مختلف، جابجایی بسیار کوچکی در مکان قله ها و شدت نسبی آنها ایجاد می شود که این جابجایی باعث تغییر در ثابت شبکه ای بلورها می گردد. در ضمن این نتایج با توجه به شعاع یونی قابل توجیح می باشد.کلیدواژه ها
مقالات مرتبط جدید
- Analytical determination of flexural rigidity of thin-walled pultruded composite I-beams
- Matrix-Dominated Damage Process in CFRP Composite Laminates underFlexural Loading Condition
- Indentation Size Scale Effect on Mechanical Properties of Cold SprayCoating
- Determination of Forming Limit Diagrams for Tailor Welded Blanks
- Control of dynamic building façade: design, analysis and experiments
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.