اثر غلظت کانال ، بر روی عملکرد ماسفت نانوسیمی سیلیکنی تمام اطراف گیت استوانه ای چهار فلزی

سال انتشار: 1395
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 350

فایل این مقاله در 16 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

FETCONF01_165

تاریخ نمایه سازی: 11 مرداد 1396

چکیده مقاله:

در این تحقیق تاثیرغلظت کانال روی عملکردماسفت نانوسیمی سیلیکنی تمام اطراف گیت استوانه ای چهارفلزی بدون پیوند (nnn) در دو حالت با طول فلزات گیت مساوی 7/5 نانومتر و طول فلزات گیت مختلف(21 و 8و 6و 4)نانومتر بررسی و شبیه سازی شده است. طول گیت 30 نانومتر، ضخامت نانوسیم 1نانومتر، ضخامت ( Sio2 2 ) نانومتر و ضخامت( Hfo2 ) 3نانومتر وضخامت گیت 2 نانومترمی باشد. در این تحقیق از شبیه ساز Atlas Silvaco device Simulator برای شبیه سازی استفاده شده است. متغیرهای مورد بررسی در این تحقیق، ولتاژآستانه، DIBL (کاهش سدپتانسیل ناشی از ولتاژدرین )، Ion جریان روشنی و Ioff جریان خاموشی می باشند.افزایش غلظت کانال به مقدارقابل ملاحظه ای ولتاژآستانه را کاهش می دهد.به طوری که در غلظت 1E19cm-3 ولتاژآستانه حدود 0/75 ولت و در غلظت E20cm-3 ولتاژآستانه حدود 0/54 ولت و در غلظت های بیش از E21cm-3 ولتاژآستانه به کمتر از 0/3 3ولت می رسد.باافزایش غلظت کانال Ion افزایش می یابد. ودر حالتی که طول فلزات گیت مساوی هستند این افزایش بیشتر می باشد.بیشترین تغییرات در غلظت های 1E19cm-3 و 1E20cm-3 و 1E21cm-3 مشاهده می شود . باافزایش غلظت کانال Ioff افزایش می یابد. ودر حالتی که طول فلزات گیت مساوی هستند این افزایش بیشتر می باشد.ودر غلظت 1E20cm-3 ؛ Ioff=0 باافزایش غلظت کانال DIBL افزایش می یابد. ودر حالتی که طول فلزات گیت مساوی هستند این افزایش بیشتر می باشد. ودر غلظت 3- 1E20cm و کمتر از آن DIBL=0 .واز 1E24cm-3 به بعد به طور ناگهانی DIBL افزایش می یابد. بادر نظر گرفتن چهار متغیر 1E19cm-3 مناسب ترین غلظت برای کانال می باشد.

کلیدواژه ها:

تمام گیت استوانه ای چهار فلزی ، نانوسیمی سیلیکنی ، ولتاژآستانه ، DIBL ، غلظت کانال

نویسندگان

اکرم نصرآبادی

دانشگاه آزاد اسلامی ، واحد علوم و تحقیقا ت خراسان رضوی( نیشابور ) ،گروه مهندسی برق ، نیشابور

محمد جوادیان صراف

دانشگاه آزاد اسلامی واحد مشهد،گروه مهندسی برق، مشهد

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • Kouda M, Master thesis .AGuideline for Material Design of Gate ...
  • ITRS, New York, The International Technology Roadmap for S e ...
  • Chen M-L, Lin W-K, Chen S-F. A new two -dimensional ...
  • Linin. Zhang, Chenyue Ma, Jin He, Xinnan Lin, Mansun Chan. ...
  • Colinge J. P, Lee C. W, Dehdashti Akhavan N, Yan ...
  • Sharma D, Kumar Vishvakarma S. Analytical modeling for 3D potential ...
  • Kumar Gupta S, Baidya A , Baishya S. Simulation and ...
  • Dixit P, Preetam Singh M, Gupta V. A .Study of ...
  • Arora N. MOSFET models for VLSI circuit simulation: theory and ...
  • Cheng H, Uno S, Nakazato K.Analytical cOmpact Model of ballistic ...
  • Jena B, Pradhan K P, Dash S, Mishra G P, ...
  • نمایش کامل مراجع