Reviews of Defect Tolerance for Nano-arrays

سال انتشار: 1395
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: انگلیسی
مشاهده: 366

فایل این مقاله در 5 صفحه با فرمت PDF و WORD قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

COMCONF03_222

تاریخ نمایه سازی: 6 اردیبهشت 1396

چکیده مقاله:

The prospect on nano-array based circuits are balanced by serious subjects related to reliability. At the present time, nanowires and active devices cannot depend on a mature technology and high rates of defects are yet to be expected. Crossbar architectures are one method to molecular electronic circuits for memory and logic applications. Defect tolerance techniques are necessary to obtain an acceptable manufacturing yield. This paper reviews an approach to building defect-tolerant, nanoscale compute fabrics out of assemblies of defective crossbars of configurable FETs and switches.

کلیدواژه ها:

نویسندگان

Lida Kouhalvandi

Electronics and Communication Engineering, Istanbul Technical University, 34469, Istanbul, Turkey

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :