اثر زیرلایه بر خصوصیات نانوفیلم اکسید روی تولید شده به روش لایه نشانی سل ژل چرخان
محل انتشار: چهارمین همایش ملی فناوری نانو از تئوری تا کاربرد
سال انتشار: 1394
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 433
فایل این مقاله در 7 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
NCNTA04_026
تاریخ نمایه سازی: 5 اردیبهشت 1396
چکیده مقاله:
نیمرسانای طبیعی اکسید روی از روشهای مختلفی سنتز می شود که از پر کاربرد ترین آنها روش سل ژل می باشد. خصوصیات فیلم حاصل از این متد وابستگی قوی نسبت به شرایط ساخت نشان می دهد که کنترل آنها می توان فیلمی با خواص دلخواه ساخت. یکی از این خواص زیرلایه استفاده شده برای لایه نشانی می باشد. زیر لایه بر جذب اپتیکی و ساختار فیلم تاثیر میگذارد و منجر به تغییر فیلم می شود. اثر دو زیرلایه شیشه و FTO در این مقاله مورد بررسی قرار گرفته و نتایج اندازه گیری های مختلفی چون اسپکتروسکوپی Vis-UV ،AFM و FESEM گزارش شده است.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
نسیم سیفی ممقانی
دانشجوی دکتری، تهران- دانشگاه الزهرا – دانشکده فیزیک و شیمی
فاطمه شهشهانی
هییت علمی، تهران- دانشگاه الزهرا – دانشکده فیزیک و شیمی
جمشید صباغ زاده
هییت علمی، مرکز ملی لیزر ایران
ایرج هادی
هییت علمی، مرکز ملی لیزر ایران
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :