بررسی آزمایشگاهی تأثیر شدت میدان مغناطیسی بر ضریب کشش سطحی نانوسورفکتانت غیر یونی

  • سال انتشار: 1395
  • محل انتشار: پنجمین همایش پژوهش های نوین در علوم و فناوری
  • کد COI اختصاصی: EMAA05_065
  • زبان مقاله: فارسی
  • تعداد مشاهده: 431
دانلود فایل این مقاله

نویسندگان

محمد حسن

دانشجوی کارشناسی ارشد، دانشگاه آزاد اسلامی واحد گچساران، گروه مهندسی شیمی، گچساران، ایران

داریوش عمادزاده

چکیده

هدف از انجام این پژوهش مطالعه آزمایشگاهی تأثیر شدت میدان مغناطیسی بر روی ضریب کشش سطحی نانوسورفکتانت غیریونی می باشد. در این پژوهش از سورفکتانت غیر یونی نونیل فنل اتوکسیله )با درجه اتوکسیله 9( برپایه آب استفاده شده است. تأثیرات غلظت سورفکتانت0تا0/8 درصد حجمی شدت میدان مغناطیسی 0تا75گوس( و دما ) 55 و 00 درجه سانتیگراد( بر روی ضریب کشش سطحی مورد تجزیه و تحلیل قرار گرفت. نتایج تجربی نشان می دهد با اعمال میدان مغناطیسی نیروی جاذبه بین مولکولی سورفکتانت و سیال پایه افزایش می یابد که باعث روند افزایشی کشش سطحی می شود.

کلیدواژه ها

نانوسورفکتانت، غیر یونی، نونیل فنل اتوکسیله،کشش سطحی

مقالات مرتبط جدید

اطلاعات بیشتر در مورد COI

COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.