Radiation Hardening by Design for Nonvolatile Magnetic Flip-Flops
- سال انتشار: 1395
- محل انتشار: اولین کنفرانس بین المللی دستاوردهای نوین پژوهشی در مهندسی برق و کامپیوتر
- کد COI اختصاصی: CBCONF01_0269
- زبان مقاله: انگلیسی
- تعداد مشاهده: 784
نویسندگان
Department of Electrical Engineering Shahid Beheshti University, Velenjak, Tehran, Iran
Department of Electrical Engineering Shahid Beheshti University, Velenjak, Tehran, Iran
Department of Electrical Engineering Shahid Beheshti University, Velenjak, Tehran, Iran
چکیده
Advanced digital circuits suffer from rapidly increase in leakage current and radiation weakness of nanometer CMOS technologies. Hybrid design of spintronic/CMOS circuits offers attractive features such as high density, low static power consumption, and nonvolatility. For these advantages, this technology is considered to be an alternative for future CMOS technologies in VLSI design. However, susceptibility of CMOS transistors to radiation induced soft errors is still a concerning problem in such hybrid designed circuits. In this paper, we proposed a low power, nonvolatile and soft error immune magnetic flip-flop (MFF) that is capable of tolerating any particle strike and also has higher performance than the recent previous designs.کلیدواژه ها
Magnetic Flip-Flop (MFF); Magnetic Tunnel Junction (MTJ); fault tolerance; Single-Event Upset (SEU); Single-Event Effect (SEE)مقالات مرتبط جدید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.