بهبود مصرف انرژی، تحملپذیری خطا و تأخیر در زنجیرههای اسکن
- سال انتشار: 1387
- محل انتشار: یازدهمین کنفرانس دانشجویی مهندسی برق ایران
- کد COI اختصاصی: ISCEE11_118
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 1353
نویسندگان
دانشگاه آزاد اسلامی واحد اراک
دانشگاه آزاد اسلامی واحد اراک
دانشگاه آزاد اسلامی واحد اراک
چکیده
امروزه مدارات دیجیتال پیچیدهتر شدهاند و بایستی قبل از تولید انبوه این تراشهها از نحوة عملکرد صحیح آنها اطمینان حاصل نمود . بررسی اتلاف نیرو در طول زمان تست مهم میباشد زیرا نیروی تلف شده در فاز تست مدار از نیروی تلف شده در فاز عملیاتی مدار بیشتر است و این امر میتواند قابلیت اطمینان مدار تحت آزمایش را بدلیل دمای بالاتر و چگالی جریان کاهش دهد. درضمن بایستی این تجهیزات در برابر خطاهای احتمالی نیز تحمل پذیر باشند. ما به تکنیکهایی میپردازیم که میکوشند در زمان تست بخش ترتیبی ، با حذف یا به حداقل رساندن سوئیچینگ در بخش ترکیبی مدار اتلاف نیرو را به حداقل برسانند و نیز کوشیدهایم این روشها را از لحاظ مصرف نیرو ، تأخیر و تحملپذیری خطا بررسی کنیم .نتایج نشان میدهد که روش انسدادی مبتنی بر گیت NOR مصرف نیرو، تحمل پذیری ، NMOS و PMOS بیشترین مصرف نیرو ، تحملپذیری خطا و تأخیر را دارد و استفاده از ترانزیستور افزونه خطا و تأخیر متوسط را نشان میدهد و روشی که از تقسیمبندی زنجیرههای اسکن استفاده میکند کمترین مصرف نیرو ، تحملپذیری خطا و تأخیر را نشان میدهد که با توجه به کاربرد تراشه ، میتوان از این روشها در تراشه استفاده نمود.کلیدواژه ها
DFT و SEU ،Latency ، Reliability ، fault toleranceمقالات مرتبط جدید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.