SCEs Investigation of Junctionless FinFET in Different Channel Lengthes

  • سال انتشار: 1394
  • محل انتشار: کنفرانس بین المللی مهندسی و علوم کاربردی
  • کد COI اختصاصی: ICEASCONF01_126
  • زبان مقاله: انگلیسی
  • تعداد مشاهده: 548
دانلود فایل این مقاله

نویسندگان

Batol Fakhr

Department of Electrical Engineering, Neyshabur Branch, Islamic Azad University, Neyshabur, Iran

Seyed Ebrahim Hosseini

Department of Electrical Engineering, Mashhad Branch, Ferdowsi University, Mashhad, Iran

چکیده

scaling length for Tri-gate SOI junctionless FinFET through 3-D device simulation is presented. SCEs of FinFETs can be controlled by changing the gate length. Changing channel length is between 10 to 100 nm. output characteristics, transfer characteristic, threshold voltage, subthreshold slope and drain induced barrier lowering (DIBL), gm, ION/IOFF ratio, ro are investigated.

کلیدواژه ها

FinFET, SOI, SCEs, Junctionless, Vth, ION/IOFF ratio, gm, DIBL, subthreashold slop

اطلاعات بیشتر در مورد COI

COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.