محاسبه ضریب جذب فوتون درنقاط کوانتومی دایره ای تک لایه و دولایه بکاررفته بعنوان جاذب نور
- سال انتشار: 1394
- محل انتشار: کنفرانس بین المللی یافته های نوین پژوهشی درمهندسی برق و علوم کامپیوتر
- کد COI اختصاصی: COMCONF01_592
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 825
نویسندگان
دانشجوی دکتری برق الکترونیک دانشگاه آزاد اسلامی واحد علوم و تحقیقات
دکتری برق الکترونیک عضو هیئت علمی دانشگاه آزاد اسلامی واحد علوم و تحقیقات
چکیده
امروزه بکارگیری گرافن وساختارهای نانوی آن درصنعت الکترونیک و الکترونیک نوری توسعه زیادی پیدا کرده است یکی ازمهمترین ساختارهای گرافن نقاط کوانتومی گرافنی است که بعنوان جاذب نور خواص بسیارممتازی دارد بکارگیری این ساختار درشاخه های مختلف الکترونیک باعث شده تامقالات و رساله های زیادی درخصوص تحلیل این ساختارنوشته شود دراغلب موارد نقاط مذکور بشکل مثلثی و یا شش ضلعی باشرایط مرزی زیگزاگ و دسته صندلی فرض میشوند درعمل باتوجه به ساختارخاص این نقاط دایره ای فرض میشوند تاکنون نقاط کوانتومی دایره ای تک لایه مورد بررسی و تحلیل قرارگرفته اند قصد اصلی مادراین مقاله محاسبه ضریب جذب برای این نقاط می باشد نتایج نیز مورد ارزیابی قرارگرفته استکلیدواژه ها
نقاط کوانتومی گرافنی ، ضریب جذب فوتون ، گرافن دولایه ، چگالی حالتهامقالات مرتبط جدید
- سیستم تشخیص نفوذ در محیط رایانش ابری با استفاده از یادگیری ویژ گی
- کاهش هزینه تعمیراتی ماشین های سنگین از طریق بهبود الگوریتم درخت تصمیم با الگوریتم های انتخاب ویژگی Information Gain ،Correlation و SVM
- پردازش کوانتومی تصاویر پزشکی و تشخیص لبه آن با استفاده از الگوریتم QHED
- بررسی و مقایسه روشهای تشخیص اکانت های جعلی در شبکه های اجتماعی
- مکان یابی و مقدار بهینه منابع تولید پراکنده به منظورکاهش تلفات و بهبود انحراف ولتاژ شبکه نامتعادل توزیع
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.