راهب شیرعلی - اهواز- دانشگاه شهید چمران اهواز- مرکز رشد وفناوری
جعفر اسکندری جم - تهران-دانشگاه صنعتی مالک اشتر

در این پژوهش دو نانولوله کربنی چند دیواره با استفاده از XRD,RAMAN,SEM مطالعه شدند. پیکهای حاصل از XRDتفاوت در تعداد و شدت پیکهای هر دو نانولوله در زاویه 52 درجه نشان میدهد. یکی از نانولوله ها در همان زاویه، دارای یک پیک و نانولوله دیگر دو پیک نشان داده است. میکروسکوپ الکترونی روبشی مورفولوژی سطح آنها را ارزیابی می کند. باندهای G' وG/D رامان برای مقدار خلوص و گرافیته بودن آنها بکار میرود

نانولوله کربنی، کنترل کیفی، مورفولوژی، ناخالصی، عیوب