افزایش جذب بازده سلول های خورشیدی با نانو پوشش های اکسیدی
- سال انتشار: 1393
- محل انتشار: دومین همایش ملی پژوهش های کاربردی در برق، مکانیک و مکاترونیک
- کد COI اختصاصی: ELEMECHCONF02_445
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 1273
نویسندگان
دانشجوی کارشناسی ارشد، گروه مهندسی مکانیک پردیس علوم و تحقیقات یزد، دانشگاه آزاد اسلامی یزد، ایران
استادیار، گروه مهندسی مکانیک، واحد یزد، دانشگاه آزاد اسلامی یزد، ایران
استادیار، گروه مهندسی مکانیک، واحد یزد، دانشگاه آزاد اسلامی یرد ،ایران
چکیده
دراین تحقیق خواص تشعشعی ساختارهای چندلایه ای، شامل زیر لایه سیلیکون آلاینده کم با پوشش های غیر فلزی منواکسید سیلسیم، دی اکسید سیلسیم، بیسموت سیلیکون اکسید و بیسموت ژرمانیوم اکسید بررسی شد. از روش ماتریس انتقال جهت محاسبه خواص تشعشعی ساختارهای چند لایه ای استفاده شد به طوری که ثابت های نوری برای جنس های مختلف از هند بوک پالیک استخراج گردید. این ثابت های نوری بر حسب طول موج در نرم افزاراکسل مرتب شده و در محدوده ی طول موج های مختلف نمودار ضریب شکست(n) و ضریب استهلاک(k) رسم گردید و فرمول آن ها بر حسب طول موج بدست آمد. با استفاده از نرم افزار متلب و اعمال روش ماتریس انتقال ضریب جذب برای ساختارهای چند لایه ای بدست می آید. با مقایسه ضرایب جذب بهترین پوشش برای جذب بالای سلول خورشیدی انتخاب می گردد. زیر لایه سیلیکون در دمای اتاق و بازه طول موج، 0/4 تا 0/84 میکرومتر، دارای ضریب شکست و ضریب استهلاک ناچیز و در نتیجه ضریب گسیل ناچیز است. موج الکترومغناطیس با زاویه 10 درجه، به ساختار چندلایه ای برخورد می کند. طبق بررسی انچام شده در این مقاله نتایج حاکی است که درطول موج 0.50 میکرومتر بیشترین ضریب جذب برابر 0.879 و کمترین ضریب جذب برابر0.628 است.کلیدواژه ها
خواص تشعشعی، لایه نازک، سیلیکون آلاییده کم، الگوریتم، ضریب جذب، ضریب گسیلمقالات مرتبط جدید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.