Design & modeling a novel Atomic Force Microscope (AFM) for detect roughness in turning machining
- سال انتشار: 1393
- محل انتشار: دومین همایش ملی پژوهش های کاربردی در برق، مکانیک و مکاترونیک
- کد COI اختصاصی: ELEMECHCONF02_008
- زبان مقاله: انگلیسی
- تعداد مشاهده: 751
نویسندگان
School of Engineering & Science International Campus of Sharif University of Technology Kish Island, IRAN
School of Engineering & Science International Campus of Sharif University of Technology Kish Island, IRAN
School of Engineering & Science International Campus of Sharif University of Technology Kish Island, IRAN
چکیده
In this paper we design and modeling a novel AFM (Atomic Force Microscope) that use it in turning machining. We know that work piece roughness is very essential part in final product in every machining method specially in turning. In this case we want to know availability of using AFM in turning. So at first designed a kind of AFM with cantilever beam, piezoelectric and piezoresistance. After that we should modeling this design in our situation, for these we define some surface that may be happen in machining. So know modeled our design for sample surface. At the end of project a P control method has been used for controlling our processingکلیدواژه ها
Atomic Force Microscope; turning machining; roughness; AFM control; cantilever beamمقالات مرتبط جدید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.