بررسی اثر ضریب چسبندگی لایه مقاوم زیرین در یک خاکریز رسی دو لایه بر ضریب اطمینان
- سال انتشار: 1383
- محل انتشار: اولین کنگره ملی مهندسی عمران
- کد COI اختصاصی: 322_0624358981
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 1637
نویسندگان
استادیار دانشگاه بوعلی سینا, دانشکده مهندسی, همدان
دانشجوی ارشد ژئوتکنیک, دانشکده مهندسی, دانشگاه بوعلی سینا, همدان
چکیده
این بررسی برای یک خاکریز رسی دو لایه با هندسه ثابت و برای دو حالت تثبیت شده با شمع و تثبیت نشده صورت میگیرد. استفاده از ردیف شمعها به منظور تثبیت خاکریزها و شیروانیها در مناطق مختلف جهان سابقه طولانی دارد. در این تحقیق سعی شده است تا با استفاده از خصوصیات برنامه PLAXIS, اثر چسبندگی لایه مقاوم زیرین در یک خاکریز رسی دو لایه بر ضریب اطمینان بررسی گردد. برنامه PLAXIS یک بسته نرمافزاری تحلیل به روش اجزاء محدود در زمینه ژئوتکنیک است. این برنامه با کاهش ضریب چسبندگی و زاویه اصطکاک داخلی تا حد گسیختگی قادر به محاسبه ضریب اطمینان میباشد. همچنین برنامه قادر است یک ناحیه گسیختگی بحرانی برای خاکریزها و شیروانیها ارائه کند. خاکریز تثبیت شده با شمع در دو حالت تثبیت با شمع در پنجه و بالای خاکریز بررسی شده است. با ارائه شکلها و مثالهایی نشان داده میشود که بین ضریب اطمینان, نحوه تشکیل سطح گسیختگی بحرانی, محل شمع و مقاومت لایه زیرین یک ارتباط منطقی برقرار است. سعی میشود که نتایج بررسی به سمت توصیههای کاربردی سوق داده شودکلیدواژه ها
خاکریز دو لایه, ضریب چسبندگی, ردیف شمع, ضریب اطمینان, ناحیه گسیختگی بحرانیاطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.