بررسی اثر توان پلاسما و زمان بر خواص اپتیکی واندازه نانو ذرات اکسید روی بر روی زیر لایه ی فلوئورین تین اکساید
- سال انتشار: 1392
- محل انتشار: دومین همایش ملی فناوری نانو از تئوری تا کاربرد
- کد COI اختصاصی: NCNTA02_025
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 783
نویسندگان
دانشجوی کارشناسی ارشد فیزیک تهران، دانشگاه آزاد اسلامی واحد تهران مرکز
استادیار. تهران، دانشگاه آزاد اسلامی واحد تهران مرکز، گروه فیزیک (استادیار)
چکیده
در این تحقیق لایه نازک اکسید روی با روش کند وپاش روی زیر لایه FTO لایه نشانی شد. خواص الکتریکی و اپتیکی نمونه ها با تغییر توان و مدت زمان لایه نشانی مورد بررسی قرار گرفت . از روی آنالیز XRD مشاهده شد نمونه ای که مدت زمان لایه نشانی آن بیشتر بود، پیک های با قدرت بیشتری را دارد و رشد اکسید روی در آن در روی دسته صفحه ی ( 101 ) بارزتر است. نتایج آنالیز SEM نمونه ها نشان داد که در نمونه ی لایه نشانی شده با توان بیشتر ، ذراتی با ابعاد بزرگتر وبا قدرت تفکیک بیشتری تشکیل شده است. با استفاده از طیف سنج UV -VI -IR این نتیجه به دست آمد که نمونه ی لایه نشانی شده با توان لایه نشانی بیشتر میزان انعکاس و عبور بیشتر و جذب کمتری را در محدوده طو ل موج 200 تا 700 نانومتر از خود نشان می دهد. نتایج این بررسی را می توان برای تولید نانو ذرات اکسید روی با اندازه مشخص و خواص اپتیکی معین،بکار برد.کلیدواژه ها
نانو ذرات طیف جذب- طیف عبور-FTO - Znoمقالات مرتبط جدید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.