تجزیه تحلیل جابجایی اجباری نانو سیال روی صفحه افقی باحضور میدان مغناطیسی
- سال انتشار: 1393
- محل انتشار: بیست و دومین کنفرانس سالانه بین المللی مهندسی مکانیک
- کد COI اختصاصی: ISME22_616
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 726
نویسندگان
استادیار گروه مکانیک دانشگاه حکیم سبزواری سبزوار
داشنجوی کارشناسی ارشد مکانیک، دانشگاه حکیم سبزواریف سبزوار
دانشجوی کارشناسی ارشد مکانیک، دانشگاه آزاد اسلامی واحد مشهد
دانشجوی کارشناسی ارشد مکانیک، دانشگاه حکیم سبزواری، سبزوار
چکیده
این مقاله به بررسی ضخامت لایه مرزی نانوسیال روی صفحه افقی در حال حرکت با حضور میدان مغناطیسی می پردازد. برای بررسی پژوهش حاضر از روش رانگ کوتای مرتبه چهار استفاده شده است. مقاله حاضر به تاثیر درصد حجمی نانوذرات و میدان مغناطیسی پرداخته است. با افزایش میدان مغناطیسی ضخامت لایه مرزی حرارتی افزایش می یابد در حالیکه افزایش درصد حجمی نانو سیال تاثیر چندانی بر ضخامت لایه مرزی ندارد.کلیدواژه ها
نانو سیال، میدان مغناطیسی، درصد حجمیمقالات مرتبط جدید
- تحلیل مکانیزم جدید رابط بین صفحه متحرک و ثابت ربات موازی صفحه ای
- تحلیل عددی کمانش پوسته استوانهای کامپوزیت تحت فشار یکنواخت خارجی با در نظر گرفتن جدایش بین الیه ها و رشد آن با استفاده از روش المان های چسبنده
- تحلیل عددی مخزن استوانه ای جدار نازک به روش متقارن محوری و مقایسه آن با حل دقیق
- بررسی تاثیر نرخ سرد شدن بر سختی و ریز ساختار یک آلیاژ
- مروری بر کامپوزیتهای فلزی؛ ویژگیها و روشهای تولید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.