تجزیه تحلیل جابجایی اجباری نانو سیال روی صفحه افقی باحضور میدان مغناطیسی
- سال انتشار: 1393
- محل انتشار: بیست و دومین کنفرانس سالانه بین المللی مهندسی مکانیک
- کد COI اختصاصی: ISME22_616
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 760
نویسندگان
استادیار گروه مکانیک دانشگاه حکیم سبزواری سبزوار
داشنجوی کارشناسی ارشد مکانیک، دانشگاه حکیم سبزواریف سبزوار
دانشجوی کارشناسی ارشد مکانیک، دانشگاه آزاد اسلامی واحد مشهد
دانشجوی کارشناسی ارشد مکانیک، دانشگاه حکیم سبزواری، سبزوار
چکیده
این مقاله به بررسی ضخامت لایه مرزی نانوسیال روی صفحه افقی در حال حرکت با حضور میدان مغناطیسی می پردازد. برای بررسی پژوهش حاضر از روش رانگ کوتای مرتبه چهار استفاده شده است. مقاله حاضر به تاثیر درصد حجمی نانوذرات و میدان مغناطیسی پرداخته است. با افزایش میدان مغناطیسی ضخامت لایه مرزی حرارتی افزایش می یابد در حالیکه افزایش درصد حجمی نانو سیال تاثیر چندانی بر ضخامت لایه مرزی ندارد.کلیدواژه ها
نانو سیال، میدان مغناطیسی، درصد حجمیمقالات مرتبط جدید
- بهینه سازی مدیریت انرژی در ریزشبکه ها با استفاده از الگوریتم های هوش مصنوعی
- مبانی، کاربردها و چالشهای یادگیری مشارکتی و تحلیل تجربی و مقایسه ابزارهای یادگیری فدرالی در پیاده سازی مدلهای یادگیری ماشین
- راهکارهای مبتنی بر هوش مصنوعی برای بهره وری انرژی در تولید سیمان: یک بررسی جامع
- معماری اینترنت اشیا مبتنی بر هوش مصنوعی در مدیریت انرژی هوشمند
- سیستم های EMS/BMS در ساختمان های ZEB و نمونههای اجرا شده آن در سطح جهانی
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.