CdSe توصیف ساختاری وبررسی خواص الکتریکی لایههای نازک نانوساختار
- سال انتشار: 1385
- محل انتشار: هشتمین کنفرانس ماده چگال
- کد COI اختصاصی: CMC08_133
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 1808
نویسندگان
گروه فیزیک - دانشکده علوم - دانشگاه رازی کرمانشاه
گروه فیزیک - دانشکده علوم - دانشگاه رازی کرمانشاه
گروه فیزیک - دانشکده علوم - دانشگاه رازی کرمانشاه
چکیده
در این مقاله لایه های نازک نانوساختار CdSe با روش رسوبگیری از حمام شیمیائی تشکیل شده اند . اثر دمای پخت ، مدت زمان پخت ومدت زمان رسوبگیری بر روی گاف انرژی نواری مطالعه شده است . وابستگی دمائی رسانش DC لایه های نانوساختار CdSe مورد مطالعه قرارگرفته است . اندازه نانوبلورهاازداده های طرح پراش تخمین زده شده است . نشان داده شده است که می توان با کنترل بارامترهای تهیه گاف انرژی را کنترل نمودکلیدواژه ها
مقالات مرتبط جدید
- Analytical determination of flexural rigidity of thin-walled pultruded composite I-beams
- Matrix-Dominated Damage Process in CFRP Composite Laminates underFlexural Loading Condition
- Indentation Size Scale Effect on Mechanical Properties of Cold SprayCoating
- Determination of Forming Limit Diagrams for Tailor Welded Blanks
- Control of dynamic building façade: design, analysis and experiments
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.