تحلیل کمانش نانوصفحات پیزوالکتریک بر اساس تئوری غیرمحلی کاهیده
- سال انتشار: 1392
- محل انتشار: کنفرانس ملی مهندسی مکانیک ایران
- کد COI اختصاصی: NCMII01_134
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 777
نویسندگان
کارشناس ارشد، دانشکده مهندسی مکانیک، دانشگاه صنعتی سیرجان، سیرجان
استادیار، مهندسی مکانیک، دانشگاه صنعتی سیرجان، سیرجان
چکیده
موضوع مقاله حاضر، بررسی اثر مقیاس کوچک بر رفتار کمانش نانو صفحات پیزوالکتریک می باشد. در مقاله حاضر معادلات حاکم بر کمانش نانوصفحات پیزوالکتریک بر اساس مدل تئوری الاستیسیته غیرمحلی کاهیده استخراج و در دامنه مورد نظر حل گردید. افزون بر روش گلرکین، که به عنوان ابزار اصلی برای حل معادلات حاکم استفاده می گردد، از روش حل ناویر نیز به منظور مقایسه و اعتبارسنجی نتایج در موارد خاص استفاده شده است. در بخش تحلیل عددی، اثر ولتاژ الکتریکی خارجی، پارامتر غیرمحلی، شرایط تکیه گاهی، نسبت ابعادی و نسبت فشاری بر رفتار کمانش نانوصفحات پیزوالکتریک مورد بررس قرار خواهد گرفت.کلیدواژه ها
کمانش، نانوصفحه پیزوالکتریک، اثر مقیاس کوچک، تئوری غیرمحلی کاهیده ارینگن، روش گلرکینمقالات مرتبط جدید
- توسعه مبدل حرارتی داخلی ( IHX ) از طریق تغییر فرآیند ساخت و تولید لوله های گاز کولر در صنعت خودروسازی
- بهبودعملکرد سیکل تبرید تراکمی با تغییر فرآیند ساخت مبدل SLHX از آرایش مماسی به هم مرکز
- بررسی تاثیر لایه میانی روی در اتصال غیر مشابه آلیاژ پایه منیزیم AZ۳۱ و آلومینیوم ۶۰۶۱ به روش جوشکاری اصطکاکی اغتشاشی نقطهای
- بررسی تجربی سوراخکاری کامپوزیتهای پلیمری: مقایسه جوت و شیشه
- سیستم هوشمند پایش وضعیت بلبرینگ با استفاده از طیفنگاره صوتی جهت طبقهبندی و تشخیص خطای بلبرینگ ها
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.