بررسی اثر پارامترهای اسپاترینگ بر ضخامت لایه نشانی پوشش نقره
- سال انتشار: 1404
- محل انتشار: نهمین کنفرانس بین المللی توسعه فناوری مهندسی مواد، معدن و زمین شناسی
- کد COI اختصاصی: EMGBC09_036
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 33
نویسندگان
کارشناس محقق مواد و آلیاژهای نوین، پژوهشکده مواد و انرژی، پژوهشگاه فضایی، ایران
کارشناس محقق مواد و آلیاژهای نوین، پژوهشکده مواد و انرژی، پژوهشگاه فضایی، ایران
عضو هیات علمی، پژوهشگاه فضایی، ایران
عضو هیات علمی، پژوهشگاه فضایی، ایران
چکیده
لایه های نازک نقره (Ag) به دلیل خواص الکتریکی، نوری و ضد میکروبی منحصر به فرد خود، توجه زیادی را به خود جلب کرده اند که یکی از مهمترین حوزه های کاربرد آن در بازتاب دهنده های خورشیدی (OSR) است. در این پژوهش از میان روش های مختلف نشاندن، لایه اسپاترینگ مگنترون DC به عنوان یک روش کارآمد و قابل کنترل برای تولید پوشش های با کیفیت مورد نیاز انتخاب شد و اثر سه پارامتر کلیدی اسپاترینگ شامل توان (۵۰، ۱۰۰، ۱۵۰ وات)، زمان (۵، ۱۰، ۱۵ دقیقه) و فشار گاز آرگون (۳، ۵، ۷ میلی تور) بر ضخامت لایه های نقره نشسته بر زیرلایه های شیشه ای مورد بررسی قرار گرفت. نتایج نشان داد که ضخامت لایه با افزایش توان و زمان اسپاترینگ به طور قابل توجهی افزایش می یابد. همچنین تاثیر فشار آرگون به صورت غیر خطی بوده و در فشار ۵ میلی تور بیشترین نرخ نشاندن حاصل شده است. طبق نتایج آزمون مشخص شد که هر سه عامل بر ضخامت لایه تاثیرگذار هستند و زمان اسپاترینگ بیشترین سهم را در این میان دارد. این یافته ها دیدگاه های ارزشمندی را برای بهینه سازی شرایط اسپاترینگ به منظور کنترل دقیق ضخامت لایه های نازک نقره در کاربردهای مختلف ارائه می دهد.کلیدواژه ها
لایه نازک, نقره, اسپاترینگ مگنترون, DC, ضخامت لایه, پارامترهای اسپاترینگ, زیرلایه, شیشهمقالات مرتبط جدید
- بررسی پتانسیل لرزه خیزی شهر تبریز و مناطق اطراف
- پتانسیل لیتیوم در بوکسیت های ایران
- تعیین نواحی امیدبخش عناصر سرب و روی با استفاده از روشهای داده محور در منطقه دهق اصفهان
- Optimization of Vapor-Liquid Distillation in Water + Acetic Acid + Sodium Acetate Systems for Chemical Recovery Processes: Application of the Modified UNIQUAC-PDH Model Based on Experimental Data
- امکانسنجی پرعیارسازی نمونه نیکل با استفاده از روشهای ثقلی و مغناطیسی
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.