رحیم انتظاری - دانشگاه صنعتی مالک اشتر، مجتمع دانشگاهی فناوری اطلاعات، ارتباطات و امنیت
مرتضی عظیمی - دانشگاه صنعتی مالک اشتر، مجتمع دانشگاهی فناوری اطلاعات، ارتباطات و امنیت
سید مجتبی حسینی - دانشگاه صنعتی مالک اشتر، مجتمع دانشگاهی فناوری اطلاعات، ارتباطات و امنیت

مدل سازی پوششی یکی از مسائل مهم در مدلهای نهان نگاری بکار گرفته شده در سال های اخیر است. در این مقاله، هدف تشریح موضوعات اولیه برای مدلسازی داده های پوششی نهان نگاری و سپس مروری بر روش های مختلف مدلسازی با استفاده از مفاهیم فرآیندهای تصادفی , میدان های تصادفی، توزیع گیبس، اطلاعات فیشر می باشد. بسیاری از الگور یتم های نهان نگاری که برای داده های پوششی استفاده می شوند برای کاهش اعوجاج ادغام به کار می روند. در این روش ها یک چارچوب کلی برای ادغام با استفاده از تابع اعوجاج دلخواه ارائه شده است، به گونه ای که این تابع اعوجاج با پیکسل ها جمع نشود. بنابراین می توان اثرات متقابل تغییرات اعوجاج را بررسی کرد . این چارچوب بر اساس کلیات ارتباط بین نهان نگاری و فیزیک آماری شکل می گیرد.

مدلسازی پوششی، توزیع گیبس، اطلاعات فیشر، قانون ریشه مربعی، میدان های تصادفی