بررسی تاثیرضخامت برویژگیهای نوری لایه های نازک ZnSe تهیه شده باروش PVD
- سال انتشار: 1390
- محل انتشار: دومین همایش سراسری کاربردهای دفاعی علوم نانو
- کد COI اختصاصی: BSNANO02_170
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 899
نویسندگان
دانشگاه اصفهان
دانشگاه اصفهان
دانشگاه اصفهان
دانشگاه صنعتی مالک اشتراصفهان
چکیده
دراین پژوهش لایه های نازک نانومتری سلناید رویZnSe) باروش تبخیرگرمایی درخلابا ضخامت های 50و65و100nm بروی بستره شیشه و دمای زیرلایه ی 300درجه سانتیگراد تهیه شد گرته ی پراش پرتوی xنشان داد که لایه ها امورف هستند انرژی گاف نواری نمونه ها محاسبه و دوگذارمستقیم مشاهده شد که احتمالا حاصل ازشکافتگی اسپین - مداردرنوارظرفیت می باشد نتایج نشان داد که پهنای گاف باافزایش ضخامت لایه ها به سمت گاف نواری حالت حجیم سلناید روی نزدیک میشود قسمت حقیقی ضریب شکست نمونه ها نیز محاسبه گردیدکلیدواژه ها
لایه های نازکZnSe)، اثرضخامت لایه، گاف نواری شکافتگی اسپین - مدار، ضریب شکستمقالات مرتبط جدید
- سنتز نانو ماده اکسیدگرافن و بررسی تاثیر آن بر روی مقاومت شیمیایی رنگ آلکیدی
- پیش بینی نرخ های تولید چندفازی (نفت، گاز و آب) با استفاده از روش های یادگیری ماشین: مرور بر روش ها و کاربردها
- روشهای کنترل داده محور در مهندسی شیمی
- بررسی جداسازی گاز پروپیلن از پروپان در غشای ۶FDA-durene با استفاده از روش شبیه سازی مولکولی
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.