A Novel Histogram Thresholding Method for Surface Defect Detection

سال انتشار: 1392
محل انتشار: هشتمین کنفرانس ماشین بینایی و پردازش تصویر ایران
کد COI اختصاصی: ICMVIP08_224
زبان مقاله: انگلیسی
تعداد مشاهده: 1299

نویسندگان

Laboratory of Signals and Electronic Systems, Electrical and Computer Engineering Faculty

چکیده

One of the most important applications of machinevision in various industries is automated inspection. Performanceof automated inspection depends directly on the algorithm usedfor threshold selection. Common methods of automaticthresholding are based on image histogram. In previous methods,the threshold selection has been realized by dividing thehistogram into two classes. Also, possibility of misdiagnosis ishigh especially for the textures without defect. This paperproposes a new statistical algorithm for automatic theresholdingwhich can be optimally applied in the presence of different typesof surface defects. The optimum threshold is obtained in theproposed algorithm so that a maximum between-class andminimum within-class variances are provided. Proposed methodsdemonstrate a better performance compared to classichistogram-based algorithm particularly for the textures withoutany considerable defects.

کلیدواژه ها

Histogram, Thresholding, Defect Detection

مقالات مرتبط جدید

اطلاعات بیشتر در مورد COI

COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.