خواص الکترونی Si1-xGexO2 با ساختار i-فاز
- سال انتشار: 1386
- محل انتشار: کنفرانس فیزیک ایران 1386
- کد COI اختصاصی: IPC86_284
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 1414
نویسندگان
دانشکده علوم ، دانشگاه صنعتی خواجه نصیرالدین طوسی
دانشکده علوم ، دانشگاه صنعتی خواجه نصیرالدین طوسی
دانشکده علوم ، دانشگاه صنعتی خواجه نصیرالدین طوسی
چکیده
در این کار خواص الکترونی Si1-xGexO2 با ساختار –i فاز (x=0/35, 0/5, 0/75, 1) با روشهای بر مبنای نظریه تابعی چگالی مورد بررسی قرار گرفته است . تأثیر تغییر جایگاه اتم های سلسیوم و ژرمانیوم بر ساختار نواری نیز بررسی شده است . محاسبات نشان می دهد که این ساختارها پایدار هستند و گاف انرژی آنها بین2/394 تا eV 4/584 است که بستگی به جایگاه اتمها و فشار روی سیستم داردکلیدواژه ها
مقالات مرتبط جدید
- Analytical determination of flexural rigidity of thin-walled pultruded composite I-beams
- Matrix-Dominated Damage Process in CFRP Composite Laminates underFlexural Loading Condition
- Indentation Size Scale Effect on Mechanical Properties of Cold SprayCoating
- Determination of Forming Limit Diagrams for Tailor Welded Blanks
- Control of dynamic building façade: design, analysis and experiments
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.