ناشر تخصصی کنفرانس های ایران

لطفا کمی صبر نمایید

Publisher of Iranian Journals and Conference Proceedings

Please waite ..
CIVILICAWe Respect the Science
ناشر تخصصی کنفرانسهای ایران
عنوان
مقاله

بررسی ویژگی های میکروساختاری لایه نازک Cu با تغییر دمای زیرلایه بر مبنای نظریه فرکتال

سال انتشار: 1390
کد COI مقاله: THINFILM01_009
زبان مقاله: فارسیمشاهد این مقاله: 369
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

خرید و دانلود فایل مقاله

متن کامل (فول تکست) این مقاله منتشر نشده و یا در سایت موجود نیست و امکان خرید آن فراهم نمی باشد.

مشخصات نویسندگان مقاله بررسی ویژگی های میکروساختاری لایه نازک Cu با تغییر دمای زیرلایه بر مبنای نظریه فرکتال

الهام جعفری خمسه - پژوهشکده تحقیقات کشاورزی، پزشکی و صنعتی هسته ای ، کرج
پروین بلاش آبادی - پژوهشکده تحقیقات کشاورزی، پزشکی و صنعتی هسته ای ، کرج
ضرغام اسداللهی - پژوهشکده تحقیقات کشاورزی، پزشکی و صنعتی هسته ای ، کرج
سیما عشقی - گروه مواد دانشگاه آزاد اسلامی واحد علوم و تحقیقات تهران

چکیده مقاله:

لایه نازک مس (Cu) با روش کند و پاش مغناطیسی در محدوده دمای زیرلایه 523 - 300 درجه کلوین بر روی زیرلایه شیشه انباشت شد. تاثیر تغییر دمای زیرلایه بر ویژگی های میکرو ساختاری لایه نازک مس مورد مطالعه قرار گرفت. توپوگرافی سطح لایه توسط میکروسکوپ الکترونی عبوری ( SEM ) مورد بررسی قرار گرفت. پارامترهای بررسی توگرافی سطح با استفاده از نظریه فرکتال بدست آمدند. روش شمارش جعبه دیفرانسیلی برای محاسبه بعد فرکتالی مورد استفاده قرار گرفت. برای بررسی بهتر زبری سطح فیلم ها از تصاویر دو و سه بعدی تصاویر SEM استفاده شد.

کلیدواژه ها:

میکروسکوپ الکترونی عبوری، ویژگی های میکروساختاری، لایه نازک، فرکتال

کد مقاله/لینک ثابت به این مقاله

برای لینک دهی به این مقاله می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت مقاله در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:

https://civilica.com/doc/220760/

نحوه استناد به مقاله:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
جعفری خمسه، الهام و بلاش آبادی، پروین و اسداللهی، ضرغام و عشقی، سیما،1390،بررسی ویژگی های میکروساختاری لایه نازک Cu با تغییر دمای زیرلایه بر مبنای نظریه فرکتال،اولین کنفرانس ملی نو آوری ها در پردازش لایه های نازک و مشخصه های آنها،کرمان،،،https://civilica.com/doc/220760

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این مقاله اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (1390، جعفری خمسه، الهام؛ پروین بلاش آبادی و ضرغام اسداللهی و سیما عشقی)
برای بار دوم به بعد: (1390، جعفری خمسه؛ بلاش آبادی و اسداللهی و عشقی)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

مدیریت اطلاعات پژوهشی

صدور گواهی نمایه سازی | گزارش اشکال مقاله | من نویسنده این مقاله هستم

اطلاعات استنادی این مقاله را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

مقالات مرتبط جدید

به اشتراک گذاری این صفحه

اطلاعات بیشتر درباره COI

COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.

پشتیبانی