بررسی رخداد سوختن تک حادثه ای (SEB) در یک دیود پین ولتاژ- بالا به کمک شبیه سازی
- سال انتشار: 1403
- محل انتشار: فصلنامه علوم و فناوری فضایی، دوره: 17، شماره: 3
- کد COI اختصاصی: JR_JSST-17-3_006
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 138
نویسندگان
دکتری ، پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای، سازمان انرژی اتمی ایران، تهران، ایران
چکیده
یکی از رخدادهایی که به طور گسترده بر عملکرد قطعات ولتاژ- بالا در کاربردهای فضایی تاثیر می گذارد، رخداد سوختن تک حادثه ای (SEB) است. در این پژوهش، وقوع رخداد SEB در یک دیود PiN ولتاژ - بالا با استفاده از نرم افزار Silvaco TCAD مورد بررسی قرار گرفته است. برای این منظور در ابتدا، ساختار یک دیود پین با ولتاژ شکست ۳/۳ کیلوولت به کمک مدل های فیزیکی مناسب در نرم افزار، شبیه سازی و منحنی مشخصه آن به دست آورده شد. در گام بعد، یون های فرودی کربن با مقادیر مختلف LET به آن تابانیده و تغییرات ایجاد شده در غلظت حامل ها، همچنین جریان و میدان الکتریکی مورد بررسی قرار گرفت. نتایج نشان دادند پس از برخورد یو ن ها، میدان الکتریکی به شکل موضعی افزایش یافته و غلظت حامل ها زیاد می شود که منجر به افزایش شدید جریان و نیز افزایش دما فراتر از نقطه ذوب سیلیکون می گردد. این شرایط نشان دهنده از کارافتادگی و سوختن دائمی دیود در نتیجه ایجاد گرمایش موضعی است که به واسطه تکثیر بسیار زیاد حامل ها در میدان الکتریکی بالای درون قطعه به وجود آمده است. نتیجه حاصل، با آزمون های تجربی که پیشتر توسط محققان انجام شده بود، مطابقت دارد. بدین ترتیب، توانمندی نرم افزار Silvaco برای شبیه سازی رخداد SEB مورد تایید قرار می گیرد.کلیدواژه ها
دیود پین, انتقال خطی انرژی, رخداد سوختن تک حادثه ای (SEB), Silvaco TCAD, SRIMاطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.