اکسیداسیون حرارتی ساختار های سیلیکونی نا هموار دو بعدی

  • سال انتشار: 1403
  • محل انتشار: هشتمین کنفرانس ملی پژوهشهای کاربردی در مهندسی برق، مکانیک و مکاترونیک
  • کد COI اختصاصی: ELEMECHCONF08_135
  • زبان مقاله: فارسی
  • تعداد مشاهده: 205
دانلود فایل این مقاله

نویسندگان

سید محمد مهدی شاه زیدی

۱- گروه الکترونیک ، دانشکده مهندسی برق ، دانشگاه جامع امام حسین ، تهران ، ایران

سید محمد علوی

۲- دانشیار گروه الکترونیک ، دانشگاه جامع امام حسین ، تهران ، ایران

چکیده

با ادامه کوچک سازی و توسعه دستگاه های جدید، اکسیداسیون غیریکنواخته سه بعدی ساختارهای سیلیکونی اهمیت بیشتری پیدا کرده است. با این حال، درک این پدیده به دلیل داده های آزمایشگاهی ناکافی و مشکلات در شبیه سازی عددی دوبعدی موانعی داشته است. این مقاله روش تجربی نوآورانه ای را ارائه می دهد که اطلاعات جامعی در مورد اکسیداسیون ساختارهای سیلیکونی استوانه ای با شعاع کنترل شده فراهم می آورد. نتایج به صورت کمی نشان می دهند که اکسیداسیون سطوح منحنی سیلیکون در دماهای پایین و منحنی های تیز کاهش می یابد، و کاهش بیشتری بر ساختارهای مقعر نسبت به ساختارهای کروی مشاهده می شود. این یافته ها توسط یک مدل فیزیکی تبیین می شوند که بر اثرات استرس بر پارامترهای رشد اکسید تمرکز دارد.

کلیدواژه ها

کلمات کلیدی : اکسیداسیون سیلیکون ، اکسیداسیون دو بعدی ، اکسیداسیون غیریکنواخت ،پارامترهای رشد اکسید ، سطوح منحنی سیلیکون ، تنش در اکسیداسیون ، نازک شدن اکسید دروازه ، اکسیداسیون محلی (LOCOS)، پلی سیلیکون

اطلاعات بیشتر در مورد COI

COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.