بهبود هدایت الکتریکی در لایه های نازک فریت بیسموت دوپ شده با کلسیم
- سال انتشار: 1390
- محل انتشار: پنجمین همایش مشترک انجمن مهندسی متالورژی ایران و انجمن ریخته گری ایران
- کد COI اختصاصی: IMES05_273
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 1019
نویسندگان
دانشجوی کارشناسی ارشد مهندسی مواد، دانشگاه صنعتی شریف
استاد دانشکده مهندسی و علم مواد، دانشگاه صنعتی شریف
چکیده
در این پژوهش لایه های نازک فریت بیسموت دوپ شده با کلسیم در غلظت های مختلف با استفاده از روش سل- ژل و تکنیک غوطه وری بر روی زیرلایه شیشه پوشش دهی شدند. ساختار کریستالی و مورفولوژی و هدایت الکتریکی لایه ها مورد بررسی قرار گرفتند. نتایج نشان داد که هدایت الکتریکی تا 10 برابر در لایه های (Bi0.85Ca0.15)FeO3 افزایش می یابد. بررسی ساختار کریستالی با استفاده از روش اصلاح ریتولد نشان داد که در این ترکیب انحرافی را از روند کاهش حجم در اثر ورود یون کوچکتر کلسیم در ساختار، نشان می دهد که منجر به ایجاد این هدایت غیر معمولی می شود. علاوه بر این نتایج میکروسکوپ نیروی اتمی نشان داد که با افزایش کلسیم زبری سطحی و اندازه دانه ها کاهش می یابد. برای ترکیب (Bi0.7Ca0.3)FeO3 زبری سطحی 2 نانو متر و اندازه متوسط دانه 80 نانو متر به دست آمد.کلیدواژه ها
لایه نازک، فریت بیسموت دوپ شده با کلسیم، هدایت الکتریکی، سل-ژلمقالات مرتبط جدید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.