تاثیر سرعت چرخش بر طیف جذبی و محاسبه گاف انرژی لایه نازک CeO2 آلاییده با SiO2

ویژگی های اپتیکی مواد اکسیدی که اساسشان سریوم و سیلسیوم است توجه افراد زیادی را به خود جلب کرده است. از این رو هدف ما بررسی خواص اپتیکی لایهنازک CeO2 آلاییده با SiO2 می باشد. در این پژوهش برای تهیه این لایه ها ما با تکنیک مایسل معکوس سل مورد نظر را تهیه میکنیم که بعد از تولید سل برای لایهنشانی از دستگاه اسپین کوتینگ در سرعت های چرخش مختلف 5000 و 4000 و 3000 استفاده میکنیم، در نهایت لایه ها را در دمای 400 درجه کلسینه کرده و با استفاده از نتایج حاصل از طیف سنج فرابنفش -مرئی (UV-Vis) گاف انرژی و نمودارهای جذب را رسم کردیم.

کلیدواژه ها:

خواص اپتیکی ، لایه نازک ، اکسید سریوم ، دیاکسید سلیسیوم ، اسپین-کوتینگ