Investigation of four phase semiconductor layer Ni/MgF2/glass producted by PVD method
محل انتشار: اولین کنفرانس ملی نانوالکترونیک ایران
سال انتشار: 1391
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: انگلیسی
مشاهده: 1,393
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ICNE01_047
تاریخ نمایه سازی: 10 اردیبهشت 1392
چکیده مقاله:
According to the increasing advancement of nanotechnology and ample use of nanostructure layers in various fields like optic pieces, photic devices, solar cells, and biological drugs; manufacturing better and morecommodious layers seems necessary. In this survey, aluminum has been layered and deposited on silver nitrateon glass using PVD method. Atomic force microscope (AFM),X-ray diffraction( XRD), and Scanning electronmicroscope( SEM) analyses, and spectrophotometery were derived from this multi-layer, and through these analyses, the structure of the surface and the morphology of theses layers were studied.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
S Gharanizade
Faculty of sciences,Islamic Azad university,Urmia Branch,Urmia, Iran
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :