Investigation of four phase semiconductor layer Ni/MgF2/glass producted by PVD method

سال انتشار: 1391
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: انگلیسی
مشاهده: 1,393

متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ICNE01_047

تاریخ نمایه سازی: 10 اردیبهشت 1392

چکیده مقاله:

According to the increasing advancement of nanotechnology and ample use of nanostructure layers in various fields like optic pieces, photic devices, solar cells, and biological drugs; manufacturing better and morecommodious layers seems necessary. In this survey, aluminum has been layered and deposited on silver nitrateon glass using PVD method. Atomic force microscope (AFM),X-ray diffraction( XRD), and Scanning electronmicroscope( SEM) analyses, and spectrophotometery were derived from this multi-layer, and through these analyses, the structure of the surface and the morphology of theses layers were studied.

نویسندگان

S Gharanizade

Faculty of sciences,Islamic Azad university,Urmia Branch,Urmia, Iran

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • Weifeng wei, Xuhui Mao, Luis A.Ortiz and Donald R. Sudoway ...
  • Bilberq K, Malte H, Wanq T pBaatrup E, Silver nanoparticle ...
  • p .Quintaa, A.IL oliva, O .ce h, Ecoron aThickness effects ...
  • _ can, Multiform nanostructure formation on pure A surface _ ...
  • نمایش کامل مراجع