مقدمه ای بر روش تحلیلی پراش الکترون های به عقب رانده شده (EBSD)
- سال انتشار: 1392
- محل انتشار: فصلنامه مواد نوین، دوره: 4، شماره: 11
- کد COI اختصاصی: JR_JNMMI-4-11_005
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 49
نویسندگان
نویسنده
نویسنده
چکیده
در این نوشتار مقدمه ای بر روش کارآمد و در حال تکامل (EBSD) Electron Backscattered Diffraction ارایه می شود. روش پراش الکترون های به عقب رانده شده(EBSD) توانایی های قابل توجهی در بررسی کمی و کیفی ریزساختار دارد. توسعه EBSDبتازگی مورد توجه وسیع صنایع و مراکز پژوهشی قرار گرفته، به گونه ای که به روش اصلی بررسی ریزساختار در بسیاری از این مراکز تبدیل شده است. این روش در محاسبه جهات بلوری ریزساختارها (Nano and Microstructures)، تشخیص فاز و میزان توزیع فازها کاربرد دارد. شواهد اولیهEBSD در سال ۱۹۲۸ در میکروسکوپ الکترون عبوری(TEM) دیده شد و تا به امروز پیشرفت های شایانی در بهبود تصویر و استخراج داده ها صورت گرفته است. از آن جمله می توان به توسعه سخت افزار، تهیه نرم افزارها، ابداع روش های مشاهده تصویر و کمیت سازی ریزساختار اشاره کرد. اصول،تاریخچه،کاربردها و چندین مثال کاربردی ازEBSDد در این نوشتار ارایه می شوند.کلیدواژه ها
پراش الکترون های به عقب رانده شده(EBSD), بررسی کمی ریزساختار, تصویربرداری جهتی(OIM), اختلاف جهتیاطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.