مشخصه یابی پراش اشعه ایکس و طیف سنجی رامان بر روی درجه ی خلوص و همراستایی نانولوله های کربنی

  • سال انتشار: 1391
  • محل انتشار: اولین همایش ملی علوم و فناوری نانو
  • کد COI اختصاصی: AHVAZNANO01_013
  • زبان مقاله: فارسی
  • تعداد مشاهده: 1826
دانلود فایل این مقاله

نویسندگان

امیرحسن مهدی زاده مقدم

پژوهشکده فناوری نانو ، دانشگاهسیستان و بلوچستان ، زاهدان ، ایران

مرتضی ایرانی

پژوهشکده فناوری نانو ، دانشگاهسیستان و بلوچستان ، زاهدان ، ایران

عماد خاکسار

دانشگاهسیستان و بلوچستان

چکیده

این مقاله آرایه منظم نانولوله های کربنی را بوسیلهی الگوی پراش اشعه ایکس و طیف سنجی رامان مطالعه میکند. مساحت الگوهای پراش عموما خلوص و مقدارکربن آمورف در نانولولههای کربنی را ارائه میدهد و شدت قلههای مربوط به صفحات( 002 ) همراستایی و نظم موجود در نانولولههای کربنی را تعیین میکند. مد شعاع تنفسینانولوله کربنی علاوه بر تعیین کردن محدودهی پیوستگی در قطر نانولولههای کربنی، مقدار نانولوله را ارائه میدهد. با توجه به محدوده فرکانسی بالاتر شدت باندهای گرافیتی و نقص در این طیف سنجی معرف خلوص و بلورینگی نانولولهها خواهد بود. این شیوهها روش ساده ای را در تعیین میزان خلوص، یکراستایی و بازهی قطر نانولولههای کربنی ایجاد کرده است

کلیدواژه ها

نانولوله کربنی، الگوی پراش اشعه ایکس، طیف سنجی رامان

مقالات مرتبط جدید

اطلاعات بیشتر در مورد COI

COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.