بررسی اثر تابش الکترون و گاما بر کیفیت سطح و بازتاب آینه نقره با پوشش TiOو TaO
- سال انتشار: 1394
- محل انتشار: مجله پژوهش فیزیک ایران، دوره: 15، شماره: 4
- کد COI اختصاصی: JR_PSI-15-4_008
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 59
نویسندگان
دانشکده فیزیک، دانشگاه صنعتی اصفهان، اصفهان
دانشکده فیزیک، دانشگاه صنعتی اصفهان، اصفهان
گروه مهندسی هسته ای، دانشکده علوم و فناوری های نوین، دانشگاه اصفهان، اصفهان
دانشکده فیزیک، دانشگاه صنعتی اصفهان، اصفهان
دانشکده فیزیک، دانشگاه صنعتی اصفهان، اصفهان
چکیده
در این تحقیق اثر تابش الکترون و گاما بر میزان بازتاب آینه های نقره با پوشش TiO۲و Ta۲O۵، در گستره طول موج ۲۵۰ تا ۱۱۰۰ نانومتر بررسی شده است. این پوشش ها برای کاربردهای فضایی در مدار LEO در ارتفاع ۵۰۰ کیلومتری سطح زمین، برای ماموریت سه ساله در فضا در نظر گرفته شده اند. میزان دز جذبی الکترون و گاما در این مدار و در طول سه سال، به ترتیب حدود ۵/۷ و ۴/۰ کیلوگری است. برای سنجش میزان مقاومت پوشش TiO۲، پرتودهی گاما با چشمه ۶۰ Co بر روی این نمونه در گستره ای از دز ۲/۰ تا ۲۰ کیلوگری انجام شد که میزان دز ۴۰۰ گری موجود در ارتفاع مورد نظر را هم در بر می گرفت. در بالاترین دز، ۲۰ کیلوگری، اثرات تابش بر روی هر دو نمونه با یکدیگر مقایسه شده اند. برای بررسی اثرات تابش بر کیفیت سطح نمونه ها بعد از تابش از میکروسکوپ نیروی اتمی و برای اندازه گیری بازتاب نمونه ها قبل و بعد از تابش، از اسپکتروفتومتر استفاده شده است. نتایج این تحقیق نشان داد که علیرغم تغییرات سطحی بسیار جزئی و تغییر رنگ بستر آینه، میزان بازتاب آنها با پوشش های TiO۲ و Ta۲O۵ تغییری نمی کند.کلیدواژه ها
اثر تابش, الکترون, گاما, آینه های نقره, پوشش TiO, پوشش TaOاطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.