تمام جمع کننده های تحمل پذیر اشکال نانومتری در تکنولوژی اتوماتای سلولینقطه

سال انتشار: 1402
محل انتشار: نهمین کنفرانس بین المللی مهندسی برق، کامپیوتر و مکانیک
کد COI اختصاصی: ICPCONF09_093
زبان مقاله: فارسی
تعداد مشاهده: 88

نویسندگان

کارشناسی ارشد معماری سیستم های کامپیوتری، دانشگاه آزاد اسلامی واحد دهلران

دکترای معماری کامپیوتر عضو هیئت علمی گروه مهندسی کامپیوتر،دانشکده کامپیوتر،دانشگاهآزاد اسلامی واحد دزفول

چکیده

فضای اشغالی (Occupied Area) ، توان مصرفی (Power Consumption) و تاخیر (Delay) از جمله پارامترهایبسیار مهم و تاثیرگذار در پیاده سازی مدارات مجتمع محسوب می شوند. فناوری اتوماتای سلولی نقطه کوانتومی( Quantum-Dot Cellular Automata) یکی از فناوری های نوظهور جهت پیاده سازی مدارات در مقیاس نانو میباشد که به دلیل فضای اشغالی و توان مصرفی بسیار پایین و نیز سرعت بسیار بالا، به عنوان یکی از بهترینفناوری های جایگزین برای مدارات برپایه Oxide Semiconductor-Complementary Metal CMOS می باشد.یکی از چالش های اساسی در تکنولوژی اتوماتای سلولی نقطه کوانتومی، وقوع اشکالات مختلف در زمان پیادهسازی مدرات است. بنابراین طراحی مدرات با قابلیت تحمل پذیری اشکال در این نانو تکنولوژی به عنوان یکمسئله اساسی مورد توجه محققین قرار گرفته است. مدار تمام جمع کننده به عنوان یکی از مدرات پایه ای درسیستم های دیجیتال محسوب می شود. وجود یک مدار تمام جمع کننده با قابلیت تحمل پذیری اشکال می تواندقابلیت اطمینان را در سیستم های دیجیتالی را افزایش دهد. در این مقاله به معرفی و بررسی جامع تعدادی ازکارامد ترین مدارات تمام جمع کننده با قابلیت تحمل پذیری اشکال پرداخته خواهد شد.

کلیدواژه ها

تکنولوژی نانو، تحمل پذیری اشکال، تمام جمع کننده، قابلیت اطمینان، اتوماتای سلولی نقطه-کوانتومی

مقالات مرتبط جدید

اطلاعات بیشتر در مورد COI

COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.