بررسی تغییرات ساختاری و مغناطیسی آلیاژهای آمورف کبالت پایه CoFeSiB در اثر تابش لیزر پالسی Nd-YAG
- سال انتشار: 1386
- محل انتشار: هشتمین سمینار ملی مهندسی سطح و عملیات حرارتی
- کد COI اختصاصی: ISSE08_045
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 1219
نویسندگان
هیئت علمی دانشگاه شهید بهشتی، پژوهشکده لیزر
هیئت علمی، دانشگاه شهید بهشتی، پژوهشکده لیزر
دانشجوی کارشناسی ارشد دانشگاه شهید بهشتی، پژوهشکده لیزر
دانشجوی دکتری دانشگاه شهید بهشتی، پژوهشکده لیزر
چکیده
با استفاده از میکروسکوپی نیروی اتمی (AFM) و میکروسکوپی نیروی مغناطیسی (MFM)، میکروساختار و ساختار نواحی مغناطیسی آلیاژ نواری آمورف کبالت پایه (Co(68.15)Fe(4.35)Si(12.5)B(15 ، که مورد تابش لیزر- پالسی Nd-YAG با طول موج 1064nm، پهنای پالس 6ns و انرژی 16mj قرار گرفته است بررسی می شود تابش باریکه لیزری با پارامترهای مشخص، علاوه بر اینکه تغییر توپوگرافی سطح، تشکیل فازهای نانوبلوری، اکسیداسیون سطحی و نیز گذار حالت آمورف به حالت بلوری را به دنبال دارد، همچنین سبب تغییراتی در اندازه و شکل نواحی مغناطیسی نمونه می شود. نتایج بدست آمده نشان دهنده آن است که تحت شرایط خاص آزمایش و با تغییر نرخ تکرار پالس، خرشدن نواحی مغناظیسی رخ نداده اما تغییر شکل نواحی اتفاق می افتد. تغییر شکل نواحی که با تغییر صافی سطح همراه است دال بر ایجاد تغییراد موضعی در ناهمسانگردی مغناطیسی و توزیع آن است. به منظور بررسی اثرات حاصل از تابش ذکر شده در پی تغییر نرخ تکرار پالس، امپدانس مغناطیسی ماده نیز مطالعه می شود. با توجه به اینکه امپدانس مغناطیسی به شدت از تغییرات سختی مغناطیسی و نیز سختی ساختاری ماده تأثیر می پذیرد این امر پارامتر به عنوان یک پارامتر ماکروسکوپی در تعیین و تأیید اثرات ناشی از تغییر پارامترهای میکروسکوپی، نقش بسزایی خواهد داشت.کلیدواژه ها
نوارهای آمورف کبالت پایه، بازپخت لیزری، امپدانس مغناطیسیمقالات مرتبط جدید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.